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涂层缺陷检测
发布时间：
2023/06/12 21:22
当缺陷与磁场方向成一定角度时，缺陷可被检测出来，为了尽可能检测所有方向缺陷，至少选择相互90度的两个方向进行磁化。返回搜狐，查看更多
在电池缺陷检测中，可以应对不同检测场景的需求，实时动态视频监控与检测，快速剔除不良品，实现对虚焊、极群装反、极柱变形等缺陷的识别。
超声波探伤是通过超声波与试件的相互作用，研究反射透射和散射波，实现试件宏观缺陷检测、几何缺陷检测、机械性能变化检测等。从而实现金属原料制品、焊缝超声检测。
随着越来越多检测人员对该功能的推崇，大家对这种新型成像技术有了浓烈的好奇，让结果清晰可见，让检测人员更有信心，也有检测人员因高估了缺陷的严重，花费昂贵的成本进行不必要的挖掘和维修的情况也时有发生，而低估了缺陷的严重，则可能会导致灾难故障的发生，造成无法预估的损失，评估缺陷的压力让检测人员丝毫不敢放松。
成功的机器视觉系统，离不开一个的相机系统、图像传感器、打光方案。鉴于晶圆缺陷的不规则性，图像传感器获取图像后晶圆缺陷的目标检测任务在使用传统图像处理算法进行处理时往往无法兼顾所有可能出现的缺陷。而深度学习方法（基于CNN的图像识别方法）对于图像分类和目标检测的高性能表现，可以大大提升不规则的缺陷识别率，提升整体系统的性能和速度。
宽泛的厚度范围：0，08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定，使用双晶探头进行腐蚀测厚，穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料，检测极为粗糙的焊缝和腐蚀表面动态提离补偿功能可用于检测极为粗糙的焊缝和腐蚀区域，有助于确保探头对表面裂纹缺陷保持高灵敏度，从而可使用户更方便地解读数据。
(2)伪缺陷干扰伪缺陷(例如水滴，水布，雨水线，水雾以及在层流冷却过程中产生的其他实际缺陷)会导致检测设备频繁出现误报。
无图形化检测指在开始生产之前，裸晶圆在晶圆制造商处获得认证，半导体晶圆厂收到后再次认证的检测过程。无图形的硅片一般是指裸硅片或有一些空白薄膜的硅片，由于晶圆没有形成图案，因此可以直接进行缺陷检测。其原理是将单波长光束照明到晶圆表面，当激光束在晶圆表面遇到粒子或其他缺陷时会散射激光的一部分，设备收集在缺陷散射光信号，通过多维度的光学模式和多通道的信号采集，实时识别晶圆表面缺陷、判别缺陷的种类，并报告缺陷的位置。
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